STEMMER IMAGING

Es sind keine zusätzlichen Maßnahmen zur Wärmeabfuhr, wie externe Kühl- oder Schutzgehäuse erforderlich. Daher sind die Kameras viel leichter und kompakter mit Abmessungen von nur 59 mm x 44 mm x 32 mm in einem robusten Metallgehäuse, das etwa einem Viertel der Gehäusegröße einer 10-GE-Kamera entspricht. Im Burst-Modus kann die Bildrate über die GigE Vision-Bandbreitenbegrenzung hinaus auf fast 1 GB/s erhöht werden. Durch die Kombination der ÜÜhohen Datenerfassungsrate im großen Onboard-Bildpuffer und der umfangreichen Zyklen- und Auslesesteuerung können Anwendungen mit schneller Burst-Erfassung realisiert werden. Aufgrund des erweiterten Temperaturbereichs von -20 bis 65 °C sind die Kameras für den Einsatz im rauen Industrieumfeld** bestens gerüstet.

Die Genie-Nano-5G-Kameras sind mit leistungsstarken Sony Pregius CMOS-Sensoren ausgestattet, die Auflösungen von 3,2 bis 12 Megapixel und schnelle Bildraten von 63 bis 190 Bilder pro Sekunde bieten. Im Partial-Scan-Modus lassen sich höhere Bildraten erzielen. Dank der exzellenten Bildqualität dieser Sensoren, kombiniert mit beeindruckenden Datenübertragungsraten, eignen sich die Kameras ideal für die unterschiedlichsten Anwendungsbereiche wie Industrieautomation, Elektronikfertigung, Verpackungsinspektion, Halbleiterinspektion, PCB-AOI (Automated Optical Inspection), Highspeed-Aufnahmen im Sport- und Unterhaltungsbereich sowie für allgemeine Bildverarbeitungsanwendungen.

Die Genie Nano 5G lässt sich dank der bewährten [Software Sapera LT mit CamExpert(productfamily/475) oder der mitgelieferten CVB CameraSuite leicht konfigurieren und programmieren.

Zu den weiteren Besonderheiten gehören:

• Global Shutter mit Belichtungssteuerung,
• Multi-Exposure-Funktion,
• erweiterter Sequenzbetrieb,
• Multi-ROI-Funktion,
• Metadatenunterstützung,
• IEEE1588 (Precision Time Protocol),
• Binning,
• Lookup-Tabelle und mehr.

Die T2IR-Technologie (Trigger-to-Image Reliability) von Teledyne DALSA verbessert die Zuverlässigkeit des Inspektionssystems und schützt vor Datenverlust.