JAI Wave WAA Series

Les caméras matricielles capturent une image complète en une seule exposition. Cette architecture convient aux objets présentés à la caméra plutôt qu'en déplacement continu devant celle-ci : pièces sur un plateau, emballages sur un poste d'inspection à l'arrêt, ou échantillons sous une platine de microscope.

Les capteurs InGaAs standard réagissent au SWIR mais bloquent la majeure partie de la lumière visible. Une conception de capteur étendue permet aux photons du domaine visible d'atteindre la couche InGaAs aux côtés des photons SWIR, si bien qu'une seule caméra capture les deux bandes sans séparateur de faisceau ni second chemin optique.

Cela compte lorsque la décision d'inspection dépend à la fois de l'aspect de surface de l'objet et de ses propriétés sous-jacentes ou de son taux d'humidité, plutôt que de l'un ou l'autre séparément.

Un capteur unique offre cette vue combinée, le refroidissement thermoélectrique maintenant le bruit du capteur stable afin que les résultats restent constants, sans configuration à deux caméras.

Révèle des propriétés matérielles au-delà du visible
La sensibilité SWIR met en évidence le taux d'humidité, le degré de maturité, les défauts sous-jacents et l'intégrité des soudures que l'aspect de surface seul ne peut révéler, soutenant des décisions d'inspection que l'imagerie visible seule manquerait entièrement.

Capture nette des objets en mouvement ou présentés
L'obturateur global expose l'image complète en une seule fois, ce qui permet de capturer sans flou de mouvement les objets encore en cours de positionnement ou en déplacement sur une cellule de préhension-dépose.

Configurable selon l'application
La sélection de la zone d'intérêt (ROI) et le binning permettent aux constructeurs de machines d'adapter l'acquisition à la taille de l'objet et au temps de cycle requis, sans modification matérielle.

Une sortie plus propre, moins de traitement
La correction de non-uniformité (FFC), la correction de pixels défectueux ainsi que le réglage du niveau de noir et du gamma directement dans la caméra fournissent des données d'image déjà corrigées à l'hôte, réduisant le traitement en aval.

Conçue pour les environnements industriels
Conçue pour fonctionner de -20 °C à +55 °C, couvrant les environnements d'inspection dans l'agroalimentaire, le pharmaceutique, l'emballage et les semi-conducteurs.

S'intègre à l'infrastructure existante
GigE Vision et une monture C standard dans un boîtier compact de 60 × 60 mm permettent à la caméra de s'insérer dans les emplacements matriciels et les environnements logiciels existants, sans reconception du système.

Les données visibles et SWIR capturées conjointement soutiennent le classement selon la qualité de surface et la taille, ainsi que selon le taux d'humidité, le degré de maturité et les débuts d'altération que l'aspect de surface seul ne révèle pas.

La sensibilité SWIR révèle les repères d'alignement sous les couches de silicium sans altérer le wafer, soutenant un alignement précis couche par couche pendant le traitement.

Le contraste amélioré dans les matériaux transparents et semi-transparents rend les soudures thermiques mesurables là où l'imagerie en lumière visible seule perd le contour, soutenant la vérification de la qualité des soudures.

La sensibilité SWIR soutient la vérification de la classification des matériaux après le tri et l'évaluation de nouveaux critères de tri, y compris pour des objets plus grands ou de forme irrégulière où le contrôle du mouvement est limité.SWIR sensitivity supports verification of material classification after sorting and evaluation of new sorting criteria, including for larger or irregularly shaped objects where motion control is limited. 

Configuration du firmware, préréglages caméra et documentation de mise en service, réduisant le temps de configuration sur site pour les installations de la série Wave.

Les tests de faisabilité valident le contraste visible et SWIR à partir d'échantillons réels de matériaux de production, avant la spécification du système. Le coaching technique couvre le choix de l'éclairage et l'optimisation des paramètres d'acquisition pour la capture combinée visible et SWIR.

Pour le développement de sous-systèmes spécifiques à une application ou l'intégration de l'imagerie Visible + SWIR dans une infrastructure de contrôle de ligne de production existante : qualification de projet et développement jusqu'à la maturité série. 

La WAA-1300-GE-TEC est une caméra matricielle, capturant une image complète en une seule exposition, adaptée à l'inspection d'objets discrets tels que les postes d'arrêt-inspection et les lignes de préhension-dépose. Les WAL-1001-GE et WAL-2001-GE sont des caméras linéaires qui construisent une image ligne par ligne pendant que le matériau se déplace en continu dans le champ de vision, adaptées à l'inspection de convoyeurs, de bandes continues et de systèmes bobine à bobine. Le choix dépend du caractère discret ou continu du déplacement de l'objet à inspecter.

Une seule exposition fournit à la fois le détail visible de surface et les informations matérielles du domaine SWIR, comme le taux d'humidité ou les défauts sous-jacents, sans l'alignement et la synchronisation exigés par une configuration à deux caméras pour le visible et le SWIR.

Elle convient lorsque la décision d'inspection dépend à la fois de l'aspect visible et des propriétés matérielles du domaine SWIR, et lorsque l'objet est présenté à la caméra plutôt qu'en déplacement continu devant celle-ci. Lorsque seules des données SWIR sont nécessaires sur une ligne continue, une caméra linéaire Wave WAL constitue généralement le meilleur choix.

Le refroidissement TEC maintient une température de fonctionnement stable du capteur, réduit le bruit d'obscurité et contribue à la fiabilité des données de calibration sur de longues séries de production, un point particulièrement important dans les environnements à température ambiante variable.

L'éclairage doit fournir une puissance suffisante à la fois dans le domaine visible et dans le domaine SWIR, ou un éclairage bibande adapté à l'exigence d'inspection. STEMMER IMAGING accompagne le choix de l'éclairage via ses Engineering Services.

La caméra utilise GigE Vision (1000BASE-T) et est compatible avec tout framework d'acquisition conforme à GigE Vision, y compris CVB Common Vision Blox de STEMMER IMAGING et le JAI SDK.

Oui. STEMMER IMAGING propose des tests de faisabilité via ses Engineering Services, validant le contraste visible et SWIR à partir d'échantillons réels de matériaux de production, avant la spécification du système.