JAI Wave WAA Câmera Series

Câmeras de área capturam um quadro completo em uma única exposição, a arquitetura adequada para objetos apresentados à câmera, em vez de se moverem continuamente diante dela: peças em uma bandeja, embalagens em uma estação de inspeção parada ou amostras sob a platina de um microscópio.

Sensores InGaAs convencionais respondem ao SWIR, mas bloqueiam a maior parte da luz visível. Um design de sensor com resposta espectral estendida permite que os fótons da faixa visível alcancem a camada de InGaAs juntamente com os fótons SWIR. Dessa forma, uma única câmera captura ambas as faixas sem a necessidade de um divisor de feixe ou de um segundo caminho óptico.

Isso é relevante quando uma decisão de inspeção depende tanto da aparência de superfície do objeto quanto de suas propriedades subsuperficiais ou de umidade, e não apenas de uma delas.

Um único sensor oferece essa visão combinada, com o resfriamento termoelétrico mantendo o ruído do sensor estável, de modo que os resultados permaneçam consistentes sem uma configuração de duas câmeras.

Revela propriedades do material além do visível
A sensibilidade SWIR expõe teor de umidade, grau de maturação, defeitos subsuperficiais e integridade da selagem que a aparência de superfície sozinha não consegue mostrar, apoiando decisões de inspeção que a imagem apenas visível deixaria passar por completo.

Captura sem desfoque de objetos em movimento ou apresentados
O obturador global expõe o quadro completo de uma só vez, de modo que objetos ainda se ajustando à posição ou em movimento em uma célula de pick and place sejam capturados sem desfoque de movimento.

Configurável conforme a aplicação
A seleção de região de interesse (ROI) e o binning permitem que os fabricantes de máquinas ajustem a aquisição ao tamanho do objeto e ao tempo de ciclo exigido, sem alterar o hardware.

Saída mais limpa, menos processamento
A correção de campo plano, a correção de pixels defeituosos e o controle de nível de preto e gama diretamente na câmera entregam dados de imagem já corrigidos ao host, reduzindo o processamento posterior.

Construída para ambientes industriais
Com faixa de temperatura de operação de -20 °C a +55 °C, atende a ambientes de inspeção nos setores de alimentos, farmacêutico, embalagens e semicondutores.

Compatível com a infraestrutura existente
GigE Vision e uma montagem C padrão em um gabinete compacto de 60 × 60 mm permitem que a câmera se encaixe em posições de câmera de área e ambientes de software já existentes, sem a necessidade de redesenhar o sistema.

Os dados visíveis e SWIR capturados em conjunto apoiam a classificação por qualidade de superfície e tamanho, além de teor de umidade, grau de maturação e deterioração inicial que a aparência de superfície sozinha não revela. 

A sensibilidade SWIR revela marcas de alinhamento abaixo das camadas de silício sem alterar o wafer, apoiando o alinhamento preciso camada a camada durante o processamento.

O contraste aprimorado em materiais transparentes e semitransparentes torna as selagens térmicas mensuráveis onde a imagem em luz visível sozinha perde o contorno, apoiando a verificação da qualidade da selagem.

A sensibilidade SWIR apoia a verificação da classificação de materiais após a triagem e a avaliação de novos critérios de classificação, inclusive para objetos maiores ou de formato irregular, onde o controle de movimento é limitado.

Configuração de firmware, predefinições de câmera e documentação de comissionamento, reduzindo o tempo de configuração em campo nas instalações da série Wave.

Os testes de viabilidade validam o contraste visível e SWIR usando amostras reais de material de produção antes da especificação do sistema. O coaching técnico abrange a seleção de iluminação e a otimização de parâmetros de aquisição para a captura combinada de visível e SWIR.

Para o desenvolvimento de subsistemas específicos de aplicação ou a incorporação de imagem Visible + SWIR dentro da infraestrutura de controle de linha de produção existente: qualificação e desenvolvimento do projeto até a maturidade de série.

A WAA-1300-GE-TEC é uma câmera de área, que captura um quadro completo em uma única exposição, adequada para a inspeção de objetos discretos, como estações de parada e inspeção e linhas de pick and place. As WAL-1001-GE e WAL-2001-GE são câmeras de linha que constroem a imagem linha por linha enquanto o material se move continuamente pelo campo de visão, adequadas para inspeção de esteiras, materiais em bobina contínua e sistemas de bobina a bobina. A escolha depende de o alvo de inspeção ser discreto ou estar em movimento contínuo.

Uma única exposição fornece tanto o detalhe visível de superfície quanto informações de material na faixa SWIR, como teor de umidade ou defeitos subsuperficiais, sem o alinhamento e a sincronização exigidos por uma configuração de duas câmeras para visível e SWIR.

Ela é adequada quando a decisão de inspeção depende tanto da aparência na faixa visível quanto das propriedades do material na faixa SWIR, e quando o objeto é apresentado à câmera em vez de se mover continuamente diante dela. Quando apenas dados SWIR são necessários em uma linha contínua, uma câmera de linha Wave WAL costuma ser a opção mais adequada.

O resfriamento TEC mantém estável a temperatura de operação do sensor, reduz o ruído escuro e ajuda a manter os dados de calibração confiáveis ao longo de execuções de produção prolongadas, o que é especialmente relevante em ambientes com temperatura ambiente variável. 

A iluminação precisa fornecer potência suficiente tanto na faixa visível quanto na faixa SWIR, ou uma iluminação de banda dupla ajustada à necessidade de inspeção. A STEMMER IMAGING apoia a seleção de iluminação por meio de seus Engineering Services.

A câmera utiliza GigE Vision (1000BASE-T) e é compatível com qualquer framework de aquisição em conformidade com o GigE Vision, incluindo o CVB Common Vision Blox da STEMMER IMAGING e o JAI SDK.   

Sim. A STEMMER IMAGING oferece testes de viabilidade por meio de seus Engineering Services, validando o contraste visível e SWIR em relação a amostras reais de material de produção antes da especificação do sistema.