

Nesta edição
A Kaleido integra sensor e espectrógrafo em uma única unidade, mantendo a interface de lente aberta, e estabelece um novo padrão de desempenho para câmeras hiperespectrais SWIR. Com o dobro da resolução espacial, quatro vezes mais velocidade de aquisição e dez vezes mais sensibilidade à luz em comparação com plataformas de geração anterior, ela viabiliza aplicações em alimentos, reciclagem, farmácia, madeira, medição de umidade e análise de composição química que antes estavam fora de alcance.
Operar uma GPU NVIDIA Blackwell de 600 W de forma confiável fora de uma sala de servidores exige uma classe diferente de hardware de computação. O Nuvo-10109GC foi desenvolvido exatamente para isso: saída GPU sustentada em potência nominal plena em uma ampla faixa de entrada DC de 9 V a 32 V, em um chassi reforçado validado conforme MIL-STD-810H para vibração e choque — adequado para plataformas móveis, transporte e implantações exigentes.
Receber uma plataforma de computação e colocá-la em funcionamento são duas coisas distintas. Os System Services fazem essa ponte: o hardware chega preparado pela equipe de Manufacturing & Customisation — montado, configurado e testado no nível que o projeto exige — com processos padronizados e documentação completa para atender aos requisitos de rastreabilidade desde o início.
A imagem SWIR e hiperespectral industrial exige desempenho óptico estável em uma ampla faixa espectral. A série Kowa LM-HC-VIS-SWIR é corrigida de 450 a 2000 nm, contribuindo para reduzir o desvio cromático de foco. Com montagem C, seis distâncias focais de 8 a 50 mm e otimização para sensores SWIR de formato 1,1", a série facilita a implementação flexível em configurações modernas de câmeras SWIR e hiperespectrais.
A confiabilidade da inspeção hiperespectral depende tanto da fonte de luz quanto da câmera. Como parte da série CCS LNSP, esta luz de linha LED SWIR de banda larga é projetada para aplicações onde a uniformidade espacial e espectral da iluminação é crítica — incluindo medição de espessura de filme fino por interferência de luz refletida e inspeção HSI, onde variações dependentes do comprimento de onda podem afetar a precisão da classificação.