

En esta edición:
La cámara Kaleido integra sensor y espectrógrafo, manteniendo la interfaz de objetivo abierta, y establece un nuevo estándar de rendimiento en cámaras hiperespectrales SWIR. Con el doble de resolución espacial, cuatro veces mayor velocidad de adquisición y diez veces más sensibilidad lumínica respecto a plataformas de generación anterior, abre aplicaciones en alimentación, reciclaje, farmacia, madera, medición de humedad y análisis de composición química que antes no eran alcanzables.
Operar una GPU NVIDIA Blackwell de 600 W de forma fiable fuera de una sala de servidores requiere una clase diferente de hardware de cómputo. El Nuvo-10109GC está diseñado exactamente para eso: salida GPU sostenida a plena potencia nominal en un rango de entrada DC de 9 V a 32 V, en un chasis reforzado validado según MIL-STD-810H para vibración e impacto – apto para plataformas móviles, transporte y despliegues exigentes.
Recibir una plataforma de cómputo y ponerla en marcha son dos cosas distintas. Los System Services cubren esa diferencia: el hardware llega preparado por el equipo de Manufacturing & Customisation – montado, configurado y probado al nivel que requiere el proyecto – con procesos estandarizados y documentación completa para los requisitos de trazabilidad.
La imagen SWIR e hiperspectral industrial exige un rendimiento óptico estable en un amplio rango espectral. La serie Kowa LM-HC-VIS-SWIR está corregida de 450 a 2000 nm, contribuyendo a reducir el desplazamiento cromático de foco. Con montura C, seis distancias focales de 8 a 50 mm y optimización para sensores SWIR de formato 1,1", la serie facilita la implementación flexible en configuraciones modernas de cámaras SWIR e hiperespectrales.
La fiabilidad de la inspección hiperspectral depende tanto de la fuente de luz como de la cámara. Como parte de la serie CCS LNSP, esta luz de línea LED SWIR de banda ancha está diseñada para aplicaciones donde la uniformidad espacial y espectral de la iluminación es crítica, incluidas la medición de espesor de capas finas por interferencia de luz reflejada y la inspección HSI donde la variación dependiente de la longitud de onda puede afectar a la exactitud de la clasificación.