

Dans ce numero :
La Kaleido intègre capteur et spectrographe dans un seul boîtier tout en conservant une interface d’objectif ouverte, et établit un nouveau niveau de référence pour les caméras hyperspectrales SWIR. Avec deux fois la résolution spatiale, quatre fois la vitesse d’acquisition et dix fois la sensibilité lumineuse des plateformes précédentes, elle ouvre des applications en agroalimentaire, recyclage, pharmacie, bois, mesure d’humidité et analyse de composition chimique jusqu’ici inaccessibles.
Faire fonctionner un GPU NVIDIA Blackwell de 600 W de manière fiable hors d'une salle serveur nécessite une autre catégorie de matériel de calcul. Le Nuvo-10109GC est conçu précisément pour cela : sortie GPU soutenue à pleine puissance nominale sur une large plage d'alimentation DC de 9 V à 32 V, dans un châssis renforcé validé MIL-STD-810H pour vibrations et chocs, adapté aux plateformes mobiles, au transport et aux déploiements exigeants.
Recevoir une plateforme de calcul et la mettre en service sont deux choses distinctes. Les System Services comblent cet écart : le matériel est préparé par notre équipe Manufacturing & Customisation et arrive assemblé, configuré et testé au niveau qu'exige votre projet, avec des processus standardisés et une documentation complète pour répondre aux exigences de traçabilité dès le départ.
L'imagerie SWIR et hyperspectrale industrielle exige des performances optiques stables sur une large plage spectrale. La série Kowa LM-HC-VIS-SWIR est corrigée de 450 à 2000 nm, contribuant à réduire le décalage chromatique de mise au point. Avec une monture en C, six focales de 8 à 50 mm et une optimisation pour les capteurs SWIR au format 1,1", la série facilite une mise en œuvre flexible dans les configurations modernes de caméras SWIR et hyperspectrales.
La fiabilité de l'inspection hyperspectrale dépend autant de la source lumineuse que de la caméra. Faisant partie de la série CCS LNSP, cet éclairage linéaire LED SWIR large bande est conçu pour les applications où l'uniformité spatiale et spectrale de l'éclairage est critique, notamment la mesure d'épaisseur de couche mince par interférence en lumière réfléchie et l'inspection HSI, où les variations dépendantes de la longueur d'onde peuvent affecter la précision de classification.