JAI Wave Series

• Revela propiedades del material invisibles para las cámaras de espectro visible: distribución de humedad, composición de polímeros y defectos bajo la superficie 
• Permite la inspección en línea continua al ritmo de producción con modelos compactos 1K y 2K
• Distingue materiales con apariencia visible casi idéntica mediante alta sensibilidad espectral y salida de 14 bits 
• Reduce los requisitos de procesamiento en el host mediante corrección de imagen FFC, DPC y Destripe integrada en la cámara 
• Se adapta a instalaciones de barrido lineal estándar: GigE Vision, óptica C-mount, factor de forma compacto de 60 × 60 mm 

Los polímeros con apariencia visual idéntica presentan firmas espectrales SWIR distintas, lo que permite la clasificación automatizada de materiales.

El silicio es parcialmente transparente al SWIR, lo que permite detectar grietas subsuperficiales y defectos en obleas sin contacto y sin dañar el material.ctivos.

Las cámaras de escaneo de línea componen la imagen línea por línea a medida que el objeto se desplaza por el campo de visión. El escaneo de línea SWIR combina la sensibilidad espectral a las propiedades del material con el rendimiento necesario para la inspección al ritmo de producción. 

La arquitectura de escaneo de línea es la opción adecuada cuando los objetos de inspección están siempre en movimiento: cintas transportadoras, materiales en bobina y procesos bobina a bobina. La JAI Wave Series combina ambos aspectos.

Clasificación de calidad basada en la condición interna y no solo en la apariencia superficial. El contenido de humedad, la distribución de compuestos orgánicos y la identificación de materiales extraños son detectables de forma fiable. El amplio campo de visión que se logra con el sensor de 12.8 mm y óptica C-mount permite que una sola cámara cubra carriles de transporte paralelos, reduciendo la cantidad de hardware en líneas de clasificación de alto rendimiento. 

El silicio  es parcialmente transparente a las longitudes de onda SWIR, lo que permite detectar grietas bajo la superficie, inspeccionar la uniformidad de las capas y verificar la alineación sin contacto ni ensayos destructivos. 

Los polímeros con apariencia visible idéntica presentan firmas SWIR distintas. La imagen de barrido lineal clasifica flujos de plástico mixtos a velocidad de clasificación, incluidos los plásticos negros y oscuros no detectables por sistemas basados en NIR. 

La iluminación de fondo SWIR revela con claridad la zona de sellado, haciendo que el ancho y la integridad del sellado sean directamente medibles. Los cierres de cremallera y las inclusiones de materiales extraños son detectables en el mismo paso. 

Firmware configuration, camera pre-settings, and commissioning documentation, reducing on-site setup time for Wave Series installations. 

Feasibility testing validates SWIR spectral contrast using actual production material samples before system specification. Technical coaching covers illumination selection, spectral filter pairing, and acquisition parameter optimisation. System design support is available for complete SWIR line scan installations. 

For multi-camera web inspection layouts, application-specific subsystem development, or SWIR imaging within existing production line control infrastructure: project qualification and development through to series readiness. 

SWIR (infrarrojo de onda corta) abarca el rango de longitud de onda de 900 a 1700 nm, más allá del espectro visible (400–700 nm) y del rango NIR accesible para sensores de silicio extendido (700–900 nm). A diferencia de la imagen visible y NIR, SWIR capta diferencias a nivel molecular en los materiales, incluyendo la absorción de humedad, las firmas de compuestos orgánicos y la composición de polímeros, que no producen contraste en longitudes de onda más cortas. Los sensores de silicio estándar no tienen respuesta en SWIR; se requieren sensores InGaAs. 

Las cámaras de barrido lineal SWIR son adecuadas cuando la decisión de inspección depende de propiedades del material que no generan contraste útil en el rango visible o NIR, y cuando el proceso de producción es continuo. Las aplicaciones representativas incluyen el mapeo del contenido de humedad, la clasificación de polímeros en cintas transportadoras, la detección de defectos bajo la superficie en obleas de silicio y la verificación de nivel de llenado o sellado a través de envases opacos. Cuando el objetivo de inspección es la apariencia superficial o la geometría, una cámara monocroma o de color estándar suele ser la opción más rentable.

La configuración 1K ofrece 1024 píxeles por línea a hasta 29 kHz. La configuración 2K ofrece 2048 píxeles por línea a hasta 40 kHz mediante un diseño de pixel shift de doble fila: dos filas de sensor 1K desplazadas se combinan dentro de la cámara en tiempo real, generando un paso de píxel efectivo de 6.25 × 6.25 µm y permitiendo la detección de defectos subpíxel sin necesidad de un sensor InGaAs 2K nativo. La imagen 2K se sintetiza por completo dentro de la cámara, sin necesidad de tarjeta de adquisición externa. Ambas configuraciones comparten el mismo ancho de sensor, la misma montura de objetivo y la misma interfaz GigE Vision; pasar de 1K a 2K no requiere cambios en óptica, iluminación o distancia de trabajo. La elección entre ambas depende principalmente de la resolución espacial requerida en la dirección de barrido y de la velocidad de línea de inspección. 

La iluminación SWIR debe emitir en el rango de 900 a 1700 nm. Las fuentes habituales incluyen LEDs SWIR, lámparas halógenas de tungsteno y diodos láser en longitudes de onda SWIR. Las configuraciones de barrido lineal requieren iluminación uniforme en toda la línea de escaneo; en ocasiones se utilizan filtros espectrales de paso de banda para enfocarse en características de absorción específicas del material. STEMMER IMAGING ofrece soporte para la selección y disposición de la iluminación a través de sus Engineering Services. 

Las cámaras de barrido lineal construyen la imagen línea por línea mientras el material se desplaza por el campo de visión, lo que las convierte en la opción correcta para la inspección de cintas transportadoras, bandas y materiales en bobina donde los objetos están en movimiento continuo. Las cámaras de área capturan un fotograma completo en una sola exposición y se adaptan mejor a la inspección de objetos discretos en configuraciones controladas de detener e inspeccionar. 

Ambas configuraciones utilizan GigE Vision (1000BASE-T) y son compatibles con cualquier framework de adquisición conforme a GigE Vision. CVB Common Vision Blox, de STEMMER IMAGING, ofrece adquisición GigE Vision, procesamiento de imagen y análisis en un único entorno de desarrollo. El JAI SDK también está disponible directamente. 

Sí. STEMMER IMAGING ofrece pruebas de viabilidad a través de sus Engineering Services, validando el contraste espectral con muestras reales de material de producción antes de la especificación del sistema. Esto es especialmente relevante en aplicaciones SWIR, donde el contraste alcanzable depende de la composición molecular de cada material y puede variar entre muestras nominalmente similares.