JAI Wave Series

• Revela propriedades do material invisíveis para câmeras de espectro visível: distribuição de umidade, composição de polímeros e defeitos abaixo da superfície
• Permite inspeção em linha contínua no ritmo de produção com modelos compactos 1K e 2K
• Distingue materiais com aparência visual quase idêntica por meio de alta sensibilidade espectral e saída de 14 bits
• Reduz os requisitos de processamento no host por meio de correção de imagem FFC, DPC e Destripe integrada à câmera
• Se adapta a instalações de varredura linear padrão: GigE Vision, óptica C-mount, formato compacto de 60 × 60 mm
  

Polímeros com aparência idêntica sob iluminação visível apresentam assinaturas espectrais SWIR distintas, permitindo a classificação automatizada de materiais.

A arquitetura de varredura linear é a escolha certa quando os alvos de inspeção estão sempre em movimento: esteiras, materiais em bobina e processos bobina a bobina. A JAI Wave Series combina as duas características.

O silício é parcialmente transparente ao SWIR, permitindo a detecção de trincas subsuperficiais e defeitos em wafers sem contato e sem dano.

As câmeras de scan de linha compõem a imagem linha a linha conforme o objeto se move pelo campo de visão. O scan de linha SWIR combina sensibilidade espectral às propriedades do material com a taxa de transferência necessária para inspeção no ritmo de produção. 

A arquitetura de scan de linha é a escolha adequada quando os alvos de inspeção estão sempre em movimento: esteiras transportadoras, materiais em bobina e processos bobina a bobina. A JAI Wave Series reúne ambos.

Classificação de qualidade baseada na condição interna, e não apenas na aparência da superfície. O teor de umidade, a distribuição de compostos orgânicos e a identificação de materiais estranhos são detectáveis de forma confiável. O amplo campo de visão alcançado com o sensor de 12,8 mm e óptica C-mount permite que uma única câmera cubra esteiras paralelas, reduzindo a quantidade de hardware em linhas de classificação de alta capacidade.

O silício transmite os comprimentos de onda SWIR, permitindo a detecção de trincas abaixo da superfície, a inspeção de uniformidade de camadas e a verificação de alinhamento sem contato e sem ensaios destrutivos.

Polímeros com aparência visual idêntica apresentam assinaturas SWIR distintas. A Captura por varredura linear classifica fluxos de plástico misto na velocidade de classificação, incluindo plásticos pretos e escuros não detectáveis por sistemas baseados em NIR.

A iluminação traseira SWIR revela claramente a zona de selagem, tornando a largura e a integridade da selagem diretamente mensuráveis. Fechos de zíper e inclusões de materiais estranhos são detectáveis na mesma passagem.

Firmware configuration, camera pre-settings, and commissioning documentation, reducing on-site setup time for Wave Series installations. 

Feasibility testing validates SWIR spectral contrast using actual production material samples before system specification. Technical coaching covers illumination selection, spectral filter pairing, and acquisition parameter optimisation. System design support is available for complete SWIR line scan installations. 

For multi-camera web inspection layouts, application-specific subsystem development, or SWIR imaging within existing production line control infrastructure: project qualification and development through to series readiness. 

O SWIR (infravermelho de onda curta) abrange a faixa de comprimento de onda de 900 a 1700 nm, além do espectro visível (400–700 nm) e da faixa NIR acessível a sensores de silício estendido (700–900 nm). Diferente do imageamento visível e NIR, o SWIR capta diferenças em nível molecular nos materiais, incluindo absorção de umidade, assinaturas de compostos orgânicos e composição de polímeros, que não produzem contraste em comprimentos de onda mais curtos. Sensores de silício padrão não têm resposta no SWIR; sensores InGaAs são necessários.

Câmeras de varredura linear SWIR são adequadas quando a decisão de inspeção depende de propriedades do material que não geram contraste útil na faixa visível ou NIR, e quando o processo de produção é contínuo. Aplicações representativas incluem mapeamento de teor de umidade, classificação de polímeros em esteiras, detecção de defeitos abaixo da superfície em pastilhas de silício, e verificação de nível de enchimento ou selagem através de embalagens opacas. Quando o alvo da inspeção é a aparência da superfície ou a geometria, uma câmera monocromática ou colorida padrão costuma ser mais econômica.

A configuração 1K fornece 1024 pixels por linha a até 29 kHz. A configuração 2K fornece 2048 pixels por linha a até 40 kHz, usando um design de pixel shift de duas linhas: duas linhas de sensor 1K deslocadas são combinadas dentro da câmera em tempo real, gerando um passo de pixel efetivo de 6,25 × 6,25 µm e permitindo detecção de defeitos em subpixel sem a necessidade de um sensor InGaAs 2K nativo. A imagem 2K é sintetizada inteiramente dentro da câmera, sem necessidade de placa de aquisição externa. Ambas as configurações compartilham a mesma largura de sensor, o mesmo encaixe de lente e a mesma interface GigE Vision; migrar de 1K para 2K não exige alterações na óptica, na iluminação ou na distância de trabalho. A escolha entre as duas depende principalmente da resolução espacial necessária na direção de varredura e da velocidade de linha da inspeção.

A iluminação SWIR deve emitir na faixa de 900 a 1700 nm. Fontes comuns incluem LEDs SWIR, lâmpadas de tungstênio-halogênio e diodos laser em comprimentos de onda SWIR. Configurações de varredura linear exigem iluminação uniforme em toda a linha de varredura; filtros espectrais passa-faixa são às vezes usados para direcionar características de absorção específicas do material. A STEMMER IMAGING oferece apoio na seleção e no arranjo da iluminação por meio de seus Engineering Services.

Câmeras de varredura linear constroem a imagem linha a linha enquanto o material se move pelo campo de visão, o que as torna a escolha correta para inspeção em esteiras, correias e materiais em bobina, onde os alvos estão em movimento contínuo. Câmeras de área capturam um quadro completo em uma única exposição e são mais adequadas para inspeção de objetos discretos em configurações controladas de parar e inspecionar.

Ambas as configurações usam GigE Vision (1000BASE-T) e são compatíveis com qualquer framework de aquisição compatível com GigE Vision. O CVB Common Vision Blox, da STEMMER IMAGING, reúne aquisição GigE Vision, processamento de imagem e análise em um único ambiente de desenvolvimento. O JAI SDK também está disponível diretamente.

Sim. A STEMMER IMAGING oferece testes de viabilidade por meio de seus Engineering Services, validando o contraste espectral com amostras reais de material de produção antes da especificação do sistema. Isso é especialmente relevante para aplicações SWIR, nas quais o contraste alcançável depende da composição molecular de cada material e pode variar entre amostras nominalmente semelhantes.