Série JAI Wave

• Révèle des propriétés du matériau invisibles pour les caméras à spectre visible : répartition de l'humidité, composition des polymères et défauts sous la surface
• Permet une inspection en ligne continue au rythme de production avec des modèles compacts 1K et 2K
• Distingue des matériaux d'apparence visuelle quasi identique grâce à une haute sensibilité spectrale et une sortie 14 bits
• Réduit les besoins de traitement côté hôte grâce à la correction d'image FFC, DPC et Destripe intégrée à la caméra
• S'intègre aux installations linéaires standard : GigE Vision, optique C-mount, format compact de 60 × 60 mm

Des polymères d'apparence identique sous éclairage visible présentent des signatures spectrales SWIR distinctes, permettant une classification automatisée des matériaux.

L'architecture linéaire est le bon choix lorsque les cibles d'inspection sont en mouvement permanent : convoyeurs, matériaux en défilement continu et procédés bobine à bobine. La JAI Wave Series combine les deux.

Le silicium est partiellement transparent au SWIR, ce qui permet de détecter les fissures sous la surface et les défauts de wafer sans contact et de manière non destructive.

Les caméras à balayage de ligne composent l'image ligne par ligne à mesure que l'objet traverse le champ de vision. Le balayage de ligne SWIR allie la sensibilité spectrale aux propriétés des matériaux et le débit nécessaire à l'inspection à la cadence de production. 

L'architecture à balayage de ligne est le choix approprié lorsque les objets à inspecter sont en mouvement permanent : convoyeurs, bandes et processus bobine à bobine. La JAI Wave Series réunit les deux.

Classification de la qualité fondée sur l'état interne plutôt que sur la seule apparence de surface. La teneur en humidité, la répartition des composés organiques et l'identification de corps étrangers sont détectables de façon fiable. Le large champ de vision obtenu avec le capteur de 12,8 mm et l'optique C-mount permet à une seule caméra de couvrir des voies de convoyeur parallèles, réduisant le nombre d'équipements sur les lignes de tri à haut débit.

Le silicium transmet les longueurs d'onde SWIR, ce qui permet la détection de fissures sous la surface, le contrôle de l'uniformité des couches et la vérification de l'alignement, sans contact ni essai destructif.

Des polymères d'apparence visuelle identique présentent des signatures SWIR distinctes. L'imagerie linéaire classe les flux de plastiques mélangés à la vitesse du tri, y compris les plastiques noirs et foncés non détectables par les systèmes basés sur le NIR.

L'éclairage en transmission SWIR révèle clairement la zone de scellage, rendant directement mesurables la largeur et l'intégrité du scellage. Les fermetures à glissière et les inclusions de corps étrangers sont détectables dans la même passe.

Firmware configuration, camera pre-settings, and commissioning documentation, reducing on-site setup time for Wave Series installations. 

Feasibility testing validates SWIR spectral contrast using actual production material samples before system specification. Technical coaching covers illumination selection, spectral filter pairing, and acquisition parameter optimisation. System design support is available for complete SWIR line scan installations. 

For multi-camera web inspection layouts, application-specific subsystem development, or SWIR imaging within existing production line control infrastructure: project qualification and development through to series readiness. 

Le SWIR (infrarouge à ondes courtes) couvre la plage de longueurs d'onde de 900 à 1700 nm, au-delà du spectre visible (400–700 nm) et de la plage NIR accessible aux capteurs silicium étendu (700–900 nm). À la différence de l'imagerie visible et NIR, le SWIR capte des différences au niveau moléculaire dans les matériaux, notamment l'absorption d'humidité, les signatures de composés organiques et la composition des polymères, qui ne produisent aucun contraste à des longueurs d'onde plus courtes. Les capteurs silicium standard n'ont aucune réponse en SWIR ; des capteurs InGaAs sont nécessaires.

Les caméras linéaires SWIR sont adaptées lorsque la décision d'inspection dépend de propriétés du matériau qui ne produisent aucun contraste exploitable dans le visible ou le NIR, et lorsque le procédé de production est continu. Les applications représentatives incluent la cartographie de la teneur en humidité, la classification des polymères sur convoyeur, la détection de défauts sous la surface dans les wafers de silicium, ainsi que la vérification du niveau de remplissage ou du scellage à travers un emballage opaque. Lorsque la cible d'inspection est l'apparence de surface ou la géométrie, une caméra monochrome ou couleur standard reste généralement plus économique.

La configuration 1K fournit 1024 pixels par ligne jusqu'à 29 kHz. La configuration 2K fournit 2048 pixels par ligne jusqu'à 40 kHz grâce à une conception en pixel shift à deux rangées : deux rangées de capteur 1K décalées sont combinées dans la caméra en temps réel, ce qui produit un pas de pixel effectif de 6,25 × 6,25 µm et permet une détection de défauts en sous-pixel sans capteur InGaAs 2K natif. L'image 2K est entièrement synthétisée dans la caméra, sans carte d'acquisition externe. Les deux configurations partagent la même largeur de capteur, la même monture d'objectif et la même interface GigE Vision ; passer de 1K à 2K ne nécessite aucune modification de l'optique, de l'éclairage ou de la distance de travail. Le choix entre les deux dépend principalement de la résolution spatiale requise dans le sens du balayage et de la vitesse de ligne d'inspection.

L'éclairage SWIR doit émettre dans la plage 900–1700 nm. Les sources courantes incluent les LED SWIR, les lampes tungstène-halogène et les diodes laser à des longueurs d'onde SWIR. Les configurations linéaires nécessitent un éclairage uniforme sur toute la ligne de balayage ; des filtres passe-bande spectraux sont parfois utilisés pour cibler des caractéristiques d'absorption spécifiques au matériau. STEMMER IMAGING accompagne le choix et la disposition de l'éclairage dans le cadre de ses Engineering Services.

Les caméras linéaires construisent l'image ligne par ligne à mesure que le matériau traverse le champ de vision, ce qui en fait le bon choix pour l'inspection sur convoyeurs, bandes et matériaux en défilement continu, où les cibles sont en mouvement permanent. Les caméras matricielles capturent une image complète en une seule exposition et conviennent mieux à l'inspection d'objets discrets dans des configurations contrôlées d'arrêt-inspection.

Les deux configurations utilisent GigE Vision (1000BASE-T) et sont compatibles avec tout framework d'acquisition conforme GigE Vision. CVB Common Vision Blox, de STEMMER IMAGING, réunit acquisition GigE Vision, traitement d'image et analyse dans un environnement de développement unique. Le JAI SDK est également disponible directement.

Oui. STEMMER IMAGING propose des tests de faisabilité dans le cadre de ses Engineering Services, validant le contraste spectral sur des échantillons réels de matériaux de production avant la spécification du système. Ceci est particulièrement pertinent pour les applications SWIR, où le contraste atteignable dépend de la composition moléculaire du matériau concerné et peut varier entre échantillons nominalement similaires.